X射線電腦斷層掃瞄技術（Computed Tomography，簡稱CT掃瞄）是常用的成像技術，利用X射線對生物體內部成像。
日本東北大學（Tohoku University）的研究人員發明一種利用高強度同步輻射的掃瞄技術，在幾毫秒內生成高質量的圖像。
目前高速、高分辨率X射線掃瞄需要將掃瞄的物體進行高速旋轉。可以想像，如果把人體放置於掃瞄儀器內高速旋轉，將給人帶來怎樣恐怖的體驗。
再者，將掃瞄的物體高速旋轉的時候，很難控制掃瞄對象的溫度和周圍的空氣。
這項研究利用一個光學系統，把單個同步加速器X射線束分成多道射線。這些射線從多個角度同時照向被成像的物體，而無需將被成像的物體進行旋轉。
要改變X射線的方向不是件容易的事情。和可見光不一樣，X射線與物體的作用小，用鏡面或稜鏡都無法改變射線的方向。研究人員利用微製造技術，造出一些雙曲線形狀的晶體。利用三排這樣的晶體，研究者稱，這個光學部件可以讓光束覆蓋±70°的範圍。在實驗中，研究者還結合了先進的壓縮感應算法，只需幾十張影像完成影像重構。
研究負責人矢代航（ Wataru Yashiro）說：「從基礎材料科學到生命科學，這項技術都有廣泛的潛在應用。」◇
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